/*

Оборудование

*/

Наши сотрудники проводят исследования на следующем экспериментальном оборудовании:

Оптическая микроскопия

Цифровой оптический 3D микроскоп Hirox KH-7700 (HIROX, Япония)

Сканирующая зондовая микроскопия

Атомно-силовой микроскоп Nano-DST (Pacific Nanotechnology, США)
Атомно-силовой микроскоп Dimension Icon (Veeco, США)

Пробоподготовка

Крио-ультрамикротом Leica EM Ultracut7 (Leica, Австрия)
Спинкоутер WS-400BZ-6NPP/A1/AR1 (Laurell, Великобритания)

Свойства тонких пленок

Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (Россия)

Механические испытания

Универсальная испытательная машина Testometric FS100 CT (Testometric, Великобритания)
Динамический модульный анализатор DMA/SDTA861e (METTLER TOLEDO, Швейцария)
Двухосевая испытательная машина Zwick (Zwick/Roell, Германия)


Цифровой оптический 3D-микроскоп Hirox KH-7700 (HIROX, Япония)

Получение оцифрованных изображений объектов и выполнения измерений по трем координатам.

  • Бесконтактные измерения по трем осям.
  • Оптическое увеличение до 7000х.
  • Синтез и сравнение изображений.
  • Запись потокового видео (30 кадров в секунду).
  • 3D-обзор (360°) с изменяемым углом наблюдения от 25° до 55°.
  • Инспекция при изменяемых углах освещения, при дифференциально-интерференционном контрасте, темном и светлом поле, в поляризованном свете.
  • Послойное фотографирование с последующим cинтезом слоев для получения сфокусированного изображения глубокого рельефа (3D-реконструкция).
  • Автоматизация фокусировки, мультифокусировки, послойного сканирования и измерения высоты.
  • Возможность маркировки групп объектов на «живом» и/или захваченном изображении (до 16-ти групп).

Атомно-силовой микроскоп Nano-DST (Pacific Nanotechnology, США)

Исследование поверхности материалов на микро- и наноуровне.

  • Область сканирования: до 90х90 мкм.
  • Макс. разрешение в плоскости xy: ~10 нм (зависит от используемых зондов).
  • Макс. разрешение по оси z: < 0.1 нм.
  • Проведение измерений в воздушной среде.

Атомно-силовой микроскоп Dimension Icon (Veeco, США)

Исследование поверхности материалов на микро- и наноуровне (на базе кафедры МССиВТ, ПГНИУ, г. Пермь).

  • Область сканирования: до 100х100 мкм.
  • Макс. разрешение в плоскости xy: ~1…10 нм (зависит от используемых зондов).
  • Макс. разрешение по оси z: < 0.1 нм.
  • Проведение измерений в воздушной/жидкой среде.
  • Термоконтроллер (проведение исследований при температурах от -30 до +150°C).
  • Картирование электропроводности.
  • Торсионный анализ (отклик материала при вдавливании зонда с подкручиванием).
  • Наноиндентация твердых материалов (используется специальный зонд).
  • Наномеханическое картирование.

Крио-ультрамикротом Leica EM Ultra Cut 7 (Leica, Австрия)

Получение ультратонких срезов. Подготовка срезов для просвечивающей электронной микроскопии (на базе кафедры МССиВТ, ПГНИУ, г. Пермь).
Не аморфизует и не изменяет химический состав поверхности образца. Удобен для подготовки поверхности для зондового/электронного/спектроскопического анализа поверхности (наполненных) полимеров, биологических тканей, твердых материалов в т.ч. металлов и костных тканей.

  • Оснащен крио-камерой Leica FC7.
  • Толщина срезов до 10 нм.
  • Три режима низкотемпературной резки: стандартный; С усиленной подачей газа: в камеру подаётся больше жидкого азота для уменьшения образования льда при температурах ниже -140°C; Влажная резка: позволяет установить большую (130°C) разницу между температурами ножа (- 40°C) и образца (-170°C).
  • Резка алмазными либо стекляными ножами.
  • Имеется устройство для изготовления стекляных ножей Leica EM KMR3 толщиной 6.4, 8 или 10 мм.

Спинкоутер WS-400BZ-6NPP/A1/AR1 (Laurell, Великобритания)

Нанесение тонких пленок из раствора на гладкую поверхность путем центрифугирования.

  • Внутренний диаметр рабочей камеры: 216 мм.
  • Диаметр подложки: 150 мм.
  • Скорость вращения: 100-8000 об/мин.
  • Вакуумный держатель, вакуумный насос, вакуумный дренажный резервуар.

Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (Россия)

Измерение спектральных зависимостей оптических параметров поверхностных структур, определение оптических и структурных свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев.
Спектральный диапазон — 350…1100 нм.


Универсальная испытательная машина Testometric FS100 CT (Testometric, Великобритания)

  • Максимальное усилие — 100 kN.
  • Максимальное перемещение — 1200 мм.
  • Скорость меняется от 0.001 до 500 мм/мин.
  • Дополнительные датчики усилий на 10 кгс и на 100 кгс.

Динамический модульный анализатор DMA/SDTA861e (METTLER TOLEDO, Швейцария)

Динамический механический анализ свойств материалов (на базе кафедры МССиВТ, ПГНИУ, г. Пермь).

  • Базовая длина образца — 10.5 мм.
  • Диапазон изменения частоты приложенной гармонической нагрузки 0.002 — 200Гц.
  • Амплитуда нагрузки: 0.005 — 18Н.
  • Амплитуда деформации: до 1600 мкм.
  • Температурный диапазон: -150°C — +500°C.
  • Типы экспериментов: температурные программы исследования с изотермическими и динамическими участками; одно- и многочастотные измерения; сканирование по частоте; сканирование по амплитуде нагрузки или деформации.

Двухосевая испытательная машина Zwick (Zwick/Roell, Германия)

Четырехвекторный испытательный стенд с взаимно перпендикулярными в одной плоскости осями нагружения. Двухосное испытание образцов на растяжение и сжатие (на базе кафедры МССиВТ, ПГНИУ, г. Пермь).

  • Макс. усилие испытания ± 2 кН.
  • Суммарное перемещение по одной оси — 800 мм.
  • Суммарная скорость по одной оси: 0.001 мм/мин — 15000 мм/мин.
  • Помимо датчиков перемещения траверс и датчиков усилий, машина оснащена видео экстензометром videoXtens Array. С его помощью можно бесконтактным образом измерять деформации в исследуемой области путем определения перемещений меток, нанесенных на образец.

Последняя редакция: 30-04-2013